蔡司GeminiSEM 450掃描電鏡場發射掃描電子顯微鏡

詳細說明

蔡司GeminiSEM 450掃描電鏡場發射掃描電子顯微鏡具有出色的易用性設計、更快的響應和更高的表面靈敏度，使其能快速、靈活、可靠地對樣品進行表面成像和分析，充當您的得力助手

更高的速度與靈敏度，更好的成像和分析
1.蔡司GeminiSEM 450掃描電鏡更快的響應和更高的表面靈敏度使其能快速、靈活、可靠地對樣品進行表面成像和分析，簡便、
2.快速地進行EDS能譜和EBSD等分析，同時保持出色的空間分辨率，充當您的得力助手。
3.在EDS能譜和EBSD分析模式下仍保持高分辨率的成像，在低電壓條件下工作時更為優異；
4.可快速地對樣品進行大范圍及高質量成像；
5.經優化的電子光學鏡筒，減少了工作過程中進行重新校準的復雜流程，節省成像時間，提高工作效率；
6.無論是不導電樣品、磁性樣品或是其他類型的樣品，無論是高真空或是可變壓力模式，均可實現快速和高質量的成像和分析；